Rasterelektronenmikroskopie

Die Rasterelektronenmikroskopie ist ein vielseitiges Verfahren, welches morphologische Bilder mit hoher Schärfentiefe und zahlreiche analytische Informationen liefert.

Das Rasterelektronenmikroskop (ZEISS EVO MA 25) ist mit einer sehr großen Probenkammer (420mm Ø x 330mm h) ausgestattet und besitzt neben dem üblichen Hochvakuumsystem noch die Möglichkeit bei einem variablem Druckbereich (10-400 Pa) zu arbeiten. Dadurch können Objekte auch ohne Probenahme oder Präparation in situ untersucht werden.

Der sog. VP-Modus (Variable Pressure) erlaubt es nichtleitende, gasende oder feuchte Proben (Textilien, Holz, Leder etc.) ohne eine vorherige Präparation (z.B. Bedampfung) zu untersuchen, indem die Aufladungen auf der Probe durch den individuellen Partialdruck in der Kammer kompensiert werden können.

Für die Elektronenstrahlmikroanalyse ist ein energiedispersives Röntgenspektrometriesystem (EDX) angeschlossen.

Der Silizium Drift Detektor (SDD) besitzt eine hohe Auflösung (=127eV) und kann sehr große Impulsraten verarbeiten, wodurch z.B. Röntgenrasterverteilungsbilder (mapping) in relativ kurzen Messzeiten aufgenommen werden können.

Das modulare Analysesystem (BRUKER QUANTAX) gestattet die Aufnahme quantitativer Elementverteilungen und anschließender Phasenintegration.

Ihr Ansprechpartner für weitergehende Fragen:

Dr. Roland Schwab